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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
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日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200 特點介紹
無汞！超高速容量測量測試儀！！
MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測量分立半導體（FET、二極管等）電容特性的方法。
進行檢查和判斷。這是一種低成本的測試系統，除了各種校正功能和自動檢查功能之外，還具有增強的自診斷功能。
為了滿足各種需求，除了基本規格外，還可以使用軟件擴展Windows軟件和內置CPU的功能，硬件方面，我們設計和制造專用的頭盒、夾具等，以適應各種需求。
我們提供一個與處理程序相匹配的系統。迄今為止，我們已向國內外主要半導體制造商出貨了50多臺該系列產品。
日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200 規格參數
規格控制器
軟件
測試裝置控制
校準器
測試程序編輯
測試單元接口
是德科技 E4980A
測試程序
直流測試計劃：200，
排序測試計劃：200
分檔輸出
20Bin
主機鏈接軟件
高速管理系統
控制單元/頭箱
測試站
1 單位
電壓
40V
測試項目
FET：CISS、CRSS、COSS、GISS(Rg)、GRSS、GOSS
DI:C
方面
控制單元：470(W)×150(H)×450(D)mm
頭部單元：70(W)×120(H)×190(D)mm
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