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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
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日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2特點介紹：
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設置樣品，無需微調電極和樣品之間的距離
可在大氣中測量半導體樣品的費米能級
由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2規格參數：
有機電子材料的費米能級測量
金屬和導電薄膜功函數的測量
有機EL和復制感光材料的電離勢測量
硬盤和磁帶摩擦學研究
半導體和引線框架表面氧化態的測量
精密電子材料中分子級薄膜污染檢測
產品分類：開爾文探針
模型：FAC-2
測量原理：開爾文法
測量零件尺寸：Φ10mm
測量能量范圍：3.4至6.2eV（使用功函數為5.0eV的參考樣品進行校準時）
測量時間：10秒或更短（如果樣品是金屬）
重復性（標準差）：功函數0.02eV（樣品：金板）
溫濕度范圍：溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH
電源：AC100V，50/60Hz 5A（最大）
外形尺寸：約235（寬）×330毫米（高）×408（深）毫米
重量：約12公斤
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