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日本YAMADA山田光學半導體檢查燈的產品介紹：
這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux（30Φ）或更高的照明，可以觀察到細微的劃痕。
日本YAMADA山田半導體檢查燈產品特點：
1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。
2、光源采用鹵素燈，色溫高，照度不均小，光線極其穩定銳利。
3、采用冷鏡，熱量的影響極大地降低到傳統鋁鏡的1/3。
4、兩級切換機構，一鍵實現高照度觀察和低照度觀察。
YP-150I 照度范圍：30mmφ
YP-250I 照度范圍：60mmφ
日本yamada山田光學 高輝度鹵素光源裝置
YP-150I 表面檢查燈 YP-250I
基本信息高強度鹵素光源裝置
超精密平面檢測的理想選擇！通過驚人的照明，可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。
“YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板
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樣品表面的照度可超過 400,000 Lx。
另外，由于采用鹵素燈作為光源，色溫高，
光照不均勻的情況很少，光照***穩定銳利。
姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。
[特點]
■ 光源采用鹵素燈
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請用于超精密平面檢測！
高亮度鹵素光源裝置“YP-250I"是用于檢測劃痕、拋光不均勻、霧度和滑移等各種缺陷的微觀察照明裝置。
采用鹵素燈作為光源，色溫高，減少照明不均，照明***穩定銳利。
此外，本機為“YP-150I"的姊妹機，有螺旋槳風機型和管道風機型可供選擇，可根據應用進行使用。
【特點】
■ 可照射400,000 Lx以上的樣品表面
■ 可選擇螺旋槳式和風道式
■ 使用冷鏡，熱影響是傳統的1/3
■ 高照度觀察和低照度照度觀察是一鍵式 可以
■ 8inch 兼容
[照明范圍]
■ YP-150I… 照度范圍 φ30
■ YP-250I… 照度范圍 φ60
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