奧林巴斯OLYMPUS 45MG超聲波測厚儀
操作簡便、堅固耐用、性能可靠
奧林巴斯olympus 45MG是一款配備有標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。45MG超聲波測厚儀具有特色的儀器與奧林巴斯的所有雙晶和單晶測厚探頭相兼容，是一款集多種解決方案于一機的創新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀標準功能：
提供基本配置的45MG超聲波測厚儀是一款簡單易學的測厚儀，操作人員只需少量的培訓，就可以處理大多數常見的測厚應用。不過，添加了可選購軟件選項和探頭之后的45MG儀器，就會變成一款非常先進的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
與所有奧林巴斯雙晶探頭兼容，可對內部腐蝕金屬的厚度進行測量
最小值/最大值模式
兩個報警模式
差值模式
時基B掃描
縮減率
增益調整（標準、高、低）
通過密碼鎖定儀器
在惡劣環境中正常操作
堅固耐用，設計符合IP67標準。
爆炸性氣氛測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規定的測試。
撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規定的測試，每軸6個循環，15 g，11 msec半弦波。
振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
寬泛的操作溫度范圍
可選購帶有支架的橡膠保護套
儀器設計，便于操作
簡潔的鍵區，只用單手（左手或右手）即可操控儀器
瀏覽方便的用戶界面，可直接訪問大多數功能
內置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡的存儲方式
USB通信端口
可選字母數字式數據記錄器，可存儲475000個厚度讀數或20000個波形
默認或自定義單晶探頭設置（可選購）
通過密碼保護方式鎖定儀器
彩色透反QVGA顯示，帶有室內和室外顏色設置，具有很高的清晰度
可選功能
只需幾次按鍵，即可完成從簡單的腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供5個需密碼激活的軟件選項，從而躋身于工業領域中用途廣泛的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層（THRU-COAT）：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，兩種厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面上的漆層或涂層。
單晶：這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數據記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描：用戶使用這個可選配實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中大幅增強測量性能。這個有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲等參數。
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀技術參數：
測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔 |
回波到回波（可選） | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度 | |
穿透涂層測量（可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭） | |
單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔 | |
厚度范圍 | 0.080 mm ～ 635 mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量整個厚度范圍需要使用單晶選項） | |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs ～ 18.699 mm/μs | |
分辨率（可選） | 低分辨率：0.1 mm | |
探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz ～ 30 MHz（-3 dB）；高穿透（單晶選項）：0.50 MHz ～ 30 MHz（-3 dB） | |
一般規格 | 操作溫度范圍 | -10 °C ～ 50 °C |
鍵區 | 密封、以色彩區分功能的鍵區，帶有觸感及聲音反饋 | |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。 設計符合IP67標準。 | |
外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 總體尺寸：91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
電源供應 | 3節AA電池 / USB電源供應 | |
電池供電時間 | 3節AA堿性電池：20 ～ 21小時 | |
標準 | 設計符合EN15317標準 | |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 × 41.15毫米 |
檢波 | 全波、射頻波、正半波、負半波（波形選項） | |
輸入/輸出 | USB | 2.0客戶端 |
存儲卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
內置數據記錄器（可選） | 數據記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形 | |
文件名、ID編碼和注釋 | 不超過32個字符的文件名，不超過20個字符的字母數字位碼，每個位有4個注釋。 | |
文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 | |
報告 | 機載報告，總結了數據統計和最小值/最大值 |
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀使用雙晶探頭：
45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受到了腐蝕或侵蝕的管道、管子、箱體、壓力容器、船體外殼及其他結構的剩余厚度。在這些應用中通常使用雙晶探頭。
用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
當校準過程中出現雙回波時，會發出雙回波警告
回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
高溫測量：可測量溫度高達500 °C的材料
B掃描成像（基于時間）
45MG測厚儀所提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數轉換為橫截面圖像。這個標準功能非常有用，因為可觀察到材料的厚度值隨著探頭的移動而發生的變化。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結最小值功能用于顯示已掃查區域的最小厚度值。可選45MG數據記錄器最多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數。
高溫表面
45MG測厚儀配上D790系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 oC）的理想選擇，可獲得穩定的厚度讀數。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的準確性。
回波到回波
測厚儀通過使用多重底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
自動回波到回波
手動回波到回波（僅用于A掃描選項），可進行以下操作：
增益調整
擴展空白
回波空白
穿透涂層技術
| 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度，兩種厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要測量金屬材料的厚度，無需去掉其表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
使用單晶探頭：
對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量
使用單晶探頭可以準確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供多種頻率、直徑和連接器樣式的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料
測量厚度、聲速或渡越時間
自動調用默認設置和自定義設置用于當前應用的功能簡化了厚度測量操作
單晶軟件選項
使用單晶軟件選項可以完成分辨率高達0.001毫米的精確厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。可測量以下材料和產品：
大多數薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管子、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米的金屬容器、鋼卷材、機加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
曲面部位或內圓角半徑較小的容器
單晶高穿透軟件選項
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。
大多數較厚或聲波衰減性較強的材料
厚金屬鑄件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲罐
復合材料板
對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米
應用設置調用應用設置調用功能簡化了厚度測量操作。選擇了任何一個存儲的探頭后，45MG測厚儀就會調出與這個探頭相關的所有內置參數。 存儲的標準設置 45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設置，可完成常見的應用。這些默認探頭設置可用于各種各樣的厚度測量應用。 存儲的自定義設置 45MG還可存儲最多35個自定義單晶探頭的設置，包括校準信息。您可以連接適當的探頭，并調用設置文件，然后儀器便可進行厚度測量，甚至是在非常困難的應用中。 | 材料聲速測量45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其他屬性密切相關的應用中，這個標準功能非常有用。典型的應用包括監測鑄造金屬的球化程度，以及監測復合材料/玻璃纖維的密度變化。 縮減率測量 差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能。差值模式顯示實際厚度與預先設定的厚度值之間的差異。縮減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經過彎曲變形并將制成車身面板的鋼板進行的縮減率測量是一個典型的應用。 奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀標準套裝：
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀軟件選項：
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