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YSM-8102-02高分辨率光譜儀系列，采用濱松S11639線陣探測器，動態范圍最大可至10000:1,積分時間低可至0.5ms, 同時信噪比提高到600:1...

YSM-8102-06 4096像素高分辨率光譜儀設計采用了濱松公司4096像素的S13496 CMOS探測器，相比S11649探測器，像元分辨率提供了1倍，極...

YSM-8102-03系列 高分辨率光譜儀，其設計采用了高分辨率的光機平臺，搭載濱松S160102048×64像素面陣CCD, 使光學分辨率優可達0....

YOA-8409-01 緊湊型LED光學測試儀用于測量350-1050nm范圍內的LED顏色特性。可以檢測絕對強度、主波長、色溫、色坐標等。用標準鎢燈光源進行校...

激光器測量套件系統主要用于測量激光器的中心波長、半高寬和功率等激光器的重要性能指標。該裝置采用模塊化設計，主要由光譜儀、光功率計和積分球組成，采用專業測量軟件同...

YOA-8404 系列 經 NIST 校準的光譜輻射計由光譜儀、光纖、余弦校正器和支架組成。其中，光譜儀通過光纖與已知表面積的余弦校正器連接。整個系統采用NIS...

YTR-6306 785nm拉曼測量實驗裝置模塊化設計使學生更容易理解和掌握拉曼光譜系統的原理和組成。工業和科學標準設計和制造，不僅可用于實驗教學，還可用于科學...

YOA-8401-785 便攜式785拉曼光譜儀是分子振動的“指紋光譜"。不同的物質分子具有不同的振動頻率，因此常被用作物質鑒別的重要依據。拉曼光譜是研究水溶液...

積分球材料熒光光譜特性測量套件采用倒置積分球和可升降樣品臺設計，方便樣品放置，快速測量粉末和散裝樣品的熒光光譜，還可以測量色譜參數（系統的相對強度校準）和光轉換...

固體材料熒光測量裝置熒光支架設計用于使用 45° 入射激光光源收集 0° 的熒光光譜。該支架足夠緊湊，一旦將支架牢固地放置在樣品表面上即可開...

液體或粉末材料熒光測量系統熒光是物質吸收光或其他電磁輻射而發出的電磁輻射。一個常見的例子是吸收紫外線的材料發出的可見熒光。已經開發了不同的技術用于不同狀態材料的...

光譜反射率測量套件采用Y型光纖測量反射光譜，一般采用7合1光纖，中間1芯為反射光譜采集端，周圍6芯為光源照射端。

積分球光譜反射率測量套件采用倒置積分球和支架設計，非常方便放置樣品，同時保證了系統在測量過程中的穩定性和準確性。

水平光譜透過率測量套件裝置采用平行光入射到樣品上，透射光譜經透鏡聚焦后耦合到光纖中，由光譜儀采集，主要適用于測量平面材料的透射率曲線（可在中測量色度參數）可見光...

當光入射到樣品上時，一部分光被反射，一部分透射光改變方向，因此為了準確測量樣品的透過率，需要由積分球、光源、光譜儀和光纖。積分球光譜透過率測量套件系統采用模塊化...

YOA-8406系列 光譜透過率測量儀主要用于平面和曲面樣品的光譜透過率快速測量。同時可以實時顯示透過率曲線和半高寬。YOA-8406系列提供CMOS、CCD、...

用于比色皿取樣的光譜吸光度測量套件是一套模塊化的分光光度計，由主光源、分光計、光纖和比色池組成。根據所選的配置，可以實現200-1100 nm波長范圍內液體樣品...

浸入式光譜吸光度測量套件采用浸入式光纖探頭，液體樣品直接從探頭中空部分流出，入射光穿過樣品，被探頭前透鏡反射，然后通過光纖進入光譜儀，完成光譜數據的采集，并可測...

YPM-8205-01 硅積分球功率檢測器由硅材料制成，覆蓋380nm至1100nm的光譜范圍，能夠測量100nW至3W的功率水平。這款多功能檢測器提供兩種數據...

YPM-8205-06 InGaAs積分球功率檢測器是一款覆蓋800nm至1650nm波段的銦鎵砷積分球檢測器，功率測量范圍為1uW - 2W。有兩種數據采集方...