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ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置
在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優點的基礎上，Horiba又推出用于微區分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術，可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描，也可對樣品的內部結構透視掃描，甚至還可以實現元素掃描.
應用
PCB基板的掃描為例 |
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電子組件內部的異物、故障解析為例 | |
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| XGT-5700WR系列 |
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X線照射徑 | Ø3mm標準 |
一次X線濾膜 | Ø3mm照射徑:4種自動切換 |
二次X線濾膜 | 用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標準裝備 |
X線檢測器 | 液體氮氣冷卻3L |
高純度Si檢測器 | |
樣品形狀 | 不超過350×400×40mm |
樣品載臺 | 掃描范圍：100×100mm? 200×200mm（可選） |
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