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當前位置：上海首立智慧科技有限公司>> XGT-1700WRX射線熒光光譜儀『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀』
測定數據
黃銅中Cd41ppm?Pb495ppm 重復測定為例
照射徑Ø3mm?測定時間300秒
Cd濃度（ppm） Pb濃度（ppm）
1 37.3 509.2
2 41.2 488.4
3 40.2 492.9
4 46.8 486.5
5 43.3 482.6
平均值41.8 491.9
標準偏差 3.6 10.3
CV 8.5% 2.1%
無電解Ni鍍層（14.3μm）中 Pb700ppm 重復測定為例
照射徑Ø3mm?測定時間300秒
Pb濃度（ppm） 膜厚（μm）
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750 13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
平均值 719.1 13.7
標準偏差 23.2 0.5
CV 3.2% 3.7%
產品性能
XGT-1700WR系列
X線照射徑 Ø3mm標準 Ø1.2mm或Ø100μm （可選）
一次X線濾膜
Ø3mm照射徑:4種自動切換
Ø1.2mm照射徑:5元素同時分析用濾膜或無濾膜
Ø100μm照射徑:無濾膜
二次X線濾膜
用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標準裝備
（ON/OFF自動切換）
X線檢測器
液體氮氣冷卻3L
高純度Si檢測器
樣品形狀
zui大460×360×149mm
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