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當(dāng)前位置:上海首立智慧科技有限公司>> XGT-1700WRX射線熒光光譜儀『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀』
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)XGT-1700WRX射線熒光光譜儀
品 牌HORIBA/堀場(chǎng)
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地
更新時(shí)間:2023-07-26 20:34:56瀏覽次數(shù):614次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)測(cè)定數(shù)據(jù)
黃銅中Cd41ppm?Pb495ppm 重復(fù)測(cè)定為例
照射徑Ø3mm?測(cè)定時(shí)間300秒
Cd濃度(ppm) Pb濃度(ppm)
1 37.3 509.2
2 41.2 488.4
3 40.2 492.9
4 46.8 486.5
5 43.3 482.6
平均值41.8 491.9
標(biāo)準(zhǔn)偏差 3.6 10.3
CV 8.5% 2.1%
無(wú)電解Ni鍍層(14.3μm)中 Pb700ppm 重復(fù)測(cè)定為例
照射徑Ø3mm?測(cè)定時(shí)間300秒
Pb濃度(ppm) 膜厚(μm)
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750 13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
平均值 719.1 13.7
標(biāo)準(zhǔn)偏差 23.2 0.5
CV 3.2% 3.7%
產(chǎn)品性能
XGT-1700WR系列
X線照射徑 Ø3mm標(biāo)準(zhǔn) Ø1.2mm或Ø100μm (可選)
一次X線濾膜
Ø3mm照射徑:4種自動(dòng)切換
Ø1.2mm照射徑:5元素同時(shí)分析用濾膜或無(wú)濾膜
Ø100μm照射徑:無(wú)濾膜
二次X線濾膜
用于金屬中有害元素高靈敏度測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)裝備
(ON/OFF自動(dòng)切換)
X線檢測(cè)器
液體氮?dú)饫鋮s3L
高純度Si檢測(cè)器
樣品形狀
zui大460×360×149mm
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