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晶圓缺陷目視用YP-250I現貨高亮度鹵素射燈高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

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光學檢測YP-250I目視用霧度檢查裝置 現貨高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

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晶圓檢測目視用UIH-1C霧度檢查照明裝置現貨一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

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晶圓 光學檢測目視檢查燈UIH-2D照明燈現貨一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

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晶圓缺陷目視檢查用現貨度照明燈UIH-3D當高強度光照射到物體上時（*1），會發生廷德爾現象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。*1：半...

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現貨晶圓缺陷光學INTECS英特斯超亮度檢查燈當高強度光照射到物體上時（*1），會發生廷德爾現象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。*1...

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晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制...

安德魯斯S-VAN光學檢測目視光源185LE現貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造...