ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針

ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針提供高分辨率 X射線光電子能譜和成像的多技術表面分析儀

結合了高靈敏度、高分辨率定量成像以及表面分析多技術聯用能力的 Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXi X射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針將滿足您對提高分析性能和靈活性的需求。

ESCALAB QXi XPS微探針是一種可擴展和優(yōu)化的多技術儀器，具有的靈活性和可配置性。它非常靈敏，可在幾秒鐘內產生高質量的光譜。系統(tǒng)控制、數據采集、處理和報告無縫集成在強大的 Thermo Scientific Avantage 數據系統(tǒng)中。由直觀EM軟件驅動的技術保證了的結果和生產力。ESCALAB QXi XPS微探針具有的雙檢測器系統(tǒng)，還提供具有出色空間分辨率的優(yōu)質 XPS 成像。

ESCALAB QXi XPS微探針的特點

單色 XPS

雙晶微聚焦單色器帶有 500 mm 羅蘭圓，使用鋁陽極（或有雙單色器選項的鋁銀雙陽極），測試光斑尺寸在 200 µm 到 900 µm 范圍內可選。

透鏡和分析儀

ESCALAB QXi XPS微探針上的透鏡和分析儀系統(tǒng)針對光譜學和平行成像進行了優(yōu)化；單一分析儀路徑意味著相同的儀器參數（例如，通過能）可用于譜圖和成像。

離子槍

ESCALAB QXi XPS微探針有兩個選項用于快速、高分辨率的深度剖析：標準 EX06 離子槍，針對單粒子模式離子濺射和離子散射光譜進行了優(yōu)化；以及可選的單粒子和團簇離子源 MAGCIS，它能夠應用于單粒子離子剖析、離子簇剖析和離子散射光譜分析。

對準和校準

包含銅、銀和金樣品的標準塊可用于評估靈敏度、設置分析儀能量標度的線性度、校準離子源、校準 X 射線單色器以及確定分析儀的轉換功能。

樣品機械手

計算機控制的 5 軸高精度轉換器 (HPT) 可實現準確的樣品對齊以進行分析。當與新的自動樣品裝載系統(tǒng)結合使用時，它可用于自動更換樣品架和運行預設實驗樹。

制備室

ESCALAB QXi的標準前處理室是一個組合式的樣品入口鎖和制備室，具有可容納各種樣品制備設備的端口，例如加熱/冷卻探針、離子槍、高壓氣室、樣品停放裝置和氣體入口。

檢測器

ESCALAB QXi XPS微探針配備了兩個檢測器系統(tǒng)：一個針對光譜進行了優(yōu)化，由一組六通道電子倍增器組成，另一個用于平行成像，由一對通道板和一個連續(xù)位置敏感探測器組成。

數碼控制

ESCALAB QXi的所有分析功能均由基于 Windows 軟件的 Avantage 數據系統(tǒng)控制，這意味著可以根據需要遠程執(zhí)行整個分析過程。

樣品對齊

ESCALAB QXi的樣品臺上的所有運動軸均由 Avantage 數據系統(tǒng)控制，儀器上安裝了高分辨率數碼攝像機，并與分析位置準確對齊。

真空系統(tǒng)

ESCALAB QXi的分析室由 5 mm 厚的高導磁合金構成，以最大限度地提高磁屏蔽效率，并使用渦輪分子泵和鈦升華泵對分析室進行抽氣，使分析室的真空度優(yōu)于 5 x 10-10毫巴。

連接性

測量坐標可以通過Thermo Scientifc Maps軟件從專用顯微鏡系統(tǒng)導入Avantage數據系統(tǒng)，從而更快地識別測量區(qū)域。可以將 XPS 光譜和成像數據添加至 Maps 軟件中，以便直接比較表面化學和結構信息。