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賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160ER Series 簡介：
1.X-RAY INSPECTION SYSTEM：
搭載Micro-focus Open Tube (160kV) 和 Flat Panel Detector ，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。此外，通過特別的減震機構，可穩定且快速的分析不良產品。可穩定的實現2.5D Tilt檢測，也可以根據用戶及各種Application選擇不同Option。
2.X-ray Simple & Easy 2.5D：
1）Max可實現900 x 900mm的Table size，可檢測大型PCB和LED。
2）通過采用雙臂支撐的Z軸結構方式，可輕松解決震動引起的圖像殘影問題。
4）通過Detector R軸結構的改善增加了檢測區域及機構的穩定性。
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