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賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series
  • 賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2024-06-19 21:00:07

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賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series:廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging(WLP)領域里。

賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series簡介:

該檢測設備搭載200納米的Nano-focus Tube,廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging(WLP)領域里。通過大理石平臺和各個高精度驅動軸,可以更加精準的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進行斷層分析,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer,自動檢測,實現Full Auto全自動檢測的設備。


可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series特點:

1.搭載自主研發生產的200nm級別開管式光管(Focal spot size Nano-focus open tube)
2.Wafer level工藝中,對TSV,Micro-bump,Cu pilar等產生的超細微不良進行自動檢測的優秀選擇
3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術實現X-ray damage free(無損檢測),可
4.安全檢測存儲半導體芯片
5.可同時兼容2D,3D 自動檢測

   



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