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賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series簡介:
該檢測設備搭載200納米的Nano-focus Tube,廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging(WLP)領域里。通過大理石平臺和各個高精度驅動軸,可以更加精準的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進行斷層分析,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer,自動檢測,實現Full Auto全自動檢測的設備。
賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series特點: