目錄:上海賽可檢測設(shè)備有限公司>>X-Ray檢測設(shè)備>> 賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥 |
賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介:
該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube,廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸,可以更加精準的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進行斷層分析,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer,自動檢測,實現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。
賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點: