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產品介紹

測試探針作為探針臺的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測件電極，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從不同應用場景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應用于半導體及光電等行業的測試。

技術優勢

.進口鎢鋼探針，優異的導電性能；

.探測線細而柔韌，最大限度減少對集成電路的損壞;

.我司特殊的鍍金工藝，保證針體機械屬性的同時，進一步優化其導電性能；

. 可測電流范圍：1fA-1A；

.多款針尖直徑可選，滿足不同應用需求;

產品圖片（盒裝）

常規選型

應用領域

測試探針，作為探針臺附件之一，適用于R/F測量，I/O點測量，直流DC測試，晶圓測試，電阻電壓測試，太陽能電池測試，光電流測試，半導體器件分析測試等。