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產品簡介
熱電參數測試系統RS-3專門針對薄膜材料的變溫seebeck系數和電阻率的測量儀器
詳細介紹
薄膜熱電參數測試系統RS-3專門針對薄膜材料的變溫seebeck系數和電阻率的測量儀器，采用動態法和四線法保證測試結果的準確和穩定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。
● 測試環境溫度范圍達到81K~700K。
● 采用動態法測 量Seebeck系數，避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確。
● 真空度≤10Pa
● 塞貝克系數測量范圍：S≥8uV/K；分辨率≤±7
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設計，方便進行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實現全自動模式。