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A2磁粉探傷試片探傷配件標準試片分為A1、A2;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 (15/50μ)標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片,規格為(8-9)D;適用于中靈敏度探傷,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),D為工件直徑。試片規格:1# 15/100μ2# 30/100μ3# 60/100μ共六片不同規格的試片組成(3種規格分別兩片)使用方法:1、標準試片適宜于連續磁化法,使用時應選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面朝向工件,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢面接觸良好,膠帶紙貼于試片兩邊緣,不能覆蓋試片背面的刻槽部位。2、進行外加懸場法,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。注意事項:1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好。2、試片用后請涂防銹油。3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發生改變時不得繼續使用。
A2磁粉探傷試片探傷配件
標準試片分為A1、A2;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 (15/50μ)標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片,規格為(8-9)D;適用于中靈敏度探傷,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),D為工件直徑。
試片規格:
1# 15/100μ2# 30/100μ3# 60/100μ共六片不同規格的試片組成(3種規格分別兩片)使用方法:1、標準試片適宜于連續磁化法,使用時應選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面朝向工件,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢面接觸良好,膠帶紙貼于試片兩邊緣,不能覆蓋試片背面的刻槽部位。2、進行外加懸場法,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。注意事項:1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好。2、試片用后請涂防銹油。3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發生改變時不得繼續使用。
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