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當前位置：濟寧恒碩檢測儀器有限公司>>涂層測厚儀>> EC-770S 0-2000um鍍層薄膜涂層測厚儀
| 應用領域 | 化工,石油,能源,冶金,航天 |
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0-2000um量程/精度0.1/誤差2%+1um/32位ARM雙核高速處理器/高精雙用探頭/中文操作界面/點陣液晶屏幕帶背光/簡單易用
2017重磅上市第三代全新升級10余項技術革新之作10年行業積淀
高精雙用探頭
易用的數據存儲、回放、統計、計算機下載采用128*128高分辨率點陣液晶
簡單、易用、全中文菜單界面
采用雙核處理架構，32位ARM處理器，顯著提升運算效率擁有全自動校準算法，省去人工反復校準
適合惡劣條件使用
0-2000um量程/精度0.1/誤差2%+1um/32位ARM雙核高速處理器/高精雙用探頭/中文操作界面/點陣液晶屏幕帶背光/簡單易用
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高精雙用探頭
易用的數據存儲、回放、統計、計算機下載采用128*128高分辨率點陣液晶
簡單、易用、全中文菜單界面
采用雙核處理架構，32位ARM處理器，顯著提升運算效率擁有全自動校準算法，省去人工反復校準
適合惡劣條件使用
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