目錄:賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司>>電子探針顯微分析儀>> ROHS金屬成分分析儀
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更新時(shí)間：2024-09-01 21:58:20瀏覽次數(shù)：2380評(píng)價(jià)
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| 供貨周期 | 兩周 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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ROHS金屬成分分析儀(SXES:Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。
和EDS一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了WDS的能量分辨率。
ROHS金屬成分分析儀系統(tǒng)簡(jiǎn)介：最新開發(fā)設(shè)計(jì)的分光系統(tǒng)，不需移動(dòng)衍射光柵或檢測(cè)器（CCD）就能同時(shí)獲取不同能量的譜圖。而且由于能量分辨率很高，還可以采集狀態(tài)分析分佈圖
SXES、WDS、EDS的比較各種分光方法中氮化鈦樣品的譜圖
即使在WDS分析中氮化鈦的譜峰也發(fā)生重疊，需要采取去卷積的數(shù)學(xué)方法處理。如下圖所示，SXES具有很高的能量分辨率。
比較表
| 特征 | SXES | EPMA(WDS) | EDS |
| 分辨率 | 0.3 eV (費(fèi)米邊處 Al-L) | 8 eV (FWHM@Fe-K） | 120-130 eV (FWHM@Mn-K） |
| 化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析 | 可以 | 可以(主要是輕元素) | 不可以 |
| 并行檢測(cè) | 可以 | 不可以 (但分光譜儀臺(tái)數(shù)范圍即可) | 可以 |
| 分光晶體和檢測(cè)器 | 衍射光柵＋CCD | 分光晶體＋正比計(jì)數(shù)管 | SDD |
| 檢測(cè)器冷卻 | 珀?duì)柼鋮s | 不需要 | 珀?duì)柼鋮s |
| 檢測(cè)限(以B作為參考值) | 20ppm | 100ppm | 5000ppm |
鋰離子二次電池（LIB）分析實(shí)例
能觀察到LIB的充電量
充滿電后Li-K樣品的譜圖
說明:由于理論上的原因，氧化鋰的檢測(cè)很困難
輕元素的測(cè)試實(shí)例
SXES測(cè)試碳素化合物的實(shí)例
可以測(cè)試金剛石、石墨、聚合物的不同。
各種氮素化合物的測(cè)試實(shí)例氮素也可以根據(jù)波形分析化學(xué)結(jié)合狀態(tài)。硝酸鹽和氮化物的波形不同，還能觀察到易受電子束損傷的銨鹽的波形。
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