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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡。實現在寬范圍加速電壓內,超高空間分辨率下高靈敏度分析。
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡主要特點
1. FHP2 新型物鏡極靴
保證超高空間分辨率觀察的同時,優化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs(158mm2)的需求,x射線有效檢測效率提高了兩倍以上,實現亞埃級分辨率的EDS元素面分析。
2. 新型屏蔽體
TEM柱采用箱式外殼,可減少溫度、氣流、噪聲等環境變化的影響,從而提高顯微鏡的穩定性。
3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™
快速準確的像差校正
4. 穩定性提高
CFEG采用小型SIP泵,快速提高真空度,提高了發射體附近的真空、發射電流、探針電流的穩定性。其他改進也提高了顯微鏡的穩定性和對各種干擾的抵抗力。