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ATR 21276509/WM265

定義：入射面內偏振的單色平面光波在密－疏媒質的界上全反射時，光疏媒質中所形成的迅衰場（見衰減波）量可以被耦合到金屬或半導體的表面上而使表面等離元（SP）或表面極化激元共振激發。全反射的光強因而發生劇邃衰減的現象。

利用光學中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。

應用：ATR在實際應用中，作為紅外光譜法的重要實驗方法之一，從一開始便顯示出其特的優勢和廣闊的應用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號，而是通過樣品表面的反射信號獲得樣品表層有機成份的結構信息。不但簡化了樣品的制作過程，而且極大地擴大了紅外光譜法的應用范圍。使許多采用傳統透過法無法制樣，或者樣品制備過程十分復雜、難度大、而效果又不理想的實驗成為可能。因此，被廣泛應用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。

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