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當(dāng)前位置:深圳市奧宇自動化設(shè)備有限公司>>ASTRO>> ATR 21161119/UE6
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2024-07-15 08:58:38瀏覽次數(shù):132次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)HBM扭矩傳感器K-KAB-T-0153-01-010-S015
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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深圳市奧宇自動化設(shè)備有限公司是一所長期致力于傳感器、自動化機械設(shè)備及配件、儀器儀表、機電產(chǎn)品的研發(fā)、銷售;國內(nèi)貿(mào)易;貨物及技術(shù) 進出口,備品備件的進出口業(yè)務(wù),為國內(nèi)外機電產(chǎn)品購銷提供的供銷服務(wù)平臺。公司擁有一批具有豐富經(jīng)驗和流業(yè)務(wù)素質(zhì)水平的銷售人員和專業(yè)技術(shù)人員,可以為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。
ATR 21161119/UE6
定義:入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密-疏媒質(zhì)的界上全反射時,光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場(見衰減波)量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元(SP)或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。
利用光學(xué)中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應(yīng)用:ATR在實際應(yīng)用中,作為紅外光譜法的重要實驗方法之一,從一開始便顯示出其特的優(yōu)勢和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號,而是通過樣品表面的反射信號獲得樣品表層有機成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡化了樣品的制作過程,而且極大地擴大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣,或者樣品制備過程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實驗成為可能。因此,被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。
ATR | 21160249/NG3024 |
ATR | 21160969/RM2 |
ATR | 21161119/UE6 |
ATR | 21163319/WM83 |
ATR | 212721139/VM135 |
ATR | 21274369/KM11G |
ATR | 21276489/VM237 |
ATR | 21276509/WM265 |
ATR | 21278919/GG8005 |
ATR | ATR - VG 140 |
ATR | GG115;IN: 19...32VDC ; OUT: +-15VDC +-160mA |
ATR | IM31 |
ATR | KM11G |
ATR | NG3024 |
ATR | OM 2 |
ATR | OM2 |
ATR | OT1-24 |
ATR 21161119/UE6
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