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菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL220
熒光射線測厚儀菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：
? 測量大規模生產的電鍍部件
? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻
? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
? 全自動測量，如測量印刷線路板
? 分析電鍍溶液
菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。
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