Fischerscope X鍍層測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN220產品特點：

? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計；

? 配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

? 由下至上的測量方向，可以*簡便地實現樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN220應用實例

所有菲希爾X射線系統的特點是具有出色的精度和長期穩定性。重新校準的必要性大大降低，節省了時間和精力。現代硅漂移探測器實現了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數法允許在不進行校準的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統。Fischerscope X-RAY Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。