Fischerscope X-ray測厚儀菲希爾代理

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY

Fischerscope X-RAY菲希爾X射線測厚儀是一種基于X射線穿透原理的測厚儀器。它通過測量X射線穿透材料后強(qiáng)度衰減的程度，來計算材料的厚度。菲希爾X射線測厚儀具有高精度、高速度、高穩(wěn)定性等優(yōu)點，適用于各種金屬材料的厚度測量。

Fischerscope X-RAY其他測厚儀器

1. 超聲波測厚儀：超聲波測厚儀利用超聲波在材料中傳播的速度和時間差來計算材料的厚度。超聲波測厚儀適用于某些非金屬材料和部分金屬材料的厚度測量，但精度相對較低。

2. 激光測厚儀：激光測厚儀利用激光束穿過材料后強(qiáng)度的變化來測量材料的厚度。激光測厚儀具有非接觸、高精度、高速度等優(yōu)點，但不適用于所有材料。

3. 電容測厚儀：電容測厚儀通過測量材料在電極間電容的變化來計算材料的厚度。電容測厚儀適用于某些絕緣材料的厚度測量，但精度易受環(huán)境溫度和濕度等因素的影響。