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SunScan 冠層分析儀系統(無線)用途:通過測量作物冠層PAR值,提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)
一用途HemiViewHMV.10通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的,例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況
一用途:通過測量作物冠層PAR值,提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(LAI)
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