稀有金屬鍍層厚度測量

菲希爾X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動(dòng)方式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240

菲希爾X射線鍍層測厚儀簡介：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

菲希爾X射線測厚儀測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

菲希爾X射線測厚儀測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

菲希爾X射線測厚儀測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

設(shè)計(jì)理念：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE? X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用戶界面友好的臺(tái)式測量儀器。手動(dòng)操作的X-Y工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)。

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測量過程和進(jìn)度。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點(diǎn)的調(diào)整。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。

XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受保護(hù)的儀器，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。