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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
堅固，方便，小巧 - DUALSCOPE MP0/DUALSCOPE MP0R菲希爾涂層測厚儀系列。 使用磁感應或渦流方法進行移動，準確和非破壞性涂層厚度測量。FISCHER的專業測量技術，設計緊湊。 具有兩個矩形放置顯示器和明亮的照明，具有出色的可讀性。 非常適合快速可靠和準確的測量 - 也適用于難以接近的區域或不佳照明等困難條件下。 提供各種版本：
DUALSCOPE MP0：用于測量黑色金屬或有色金屬材料上的涂層。
DUALSCOPE MP0R：帶有額外的無線和USB接口，用于向PC傳輸數據
DUALSCOPE MP0R-FP：帶固定電纜探頭，無線電和USB接口
MPOR-FP薄膜測厚儀雖然體積小，但具有電磁和渦流兩種自動切換功能。它會自動確定底層金屬是磁性的還是非磁性的，并自動更改測量方法以進行測量。通過新的導航和圖形顯示，直觀操作非常容易。測量幾乎不受工件形狀和磁導率的影響。袖珍型涂層測厚儀– MPOR-FP是與PC結合在一起的袖珍儀器，可以對所有金屬進行合適且快速的涂層厚度測量。 涂層測厚儀-MP0R-FP具有專有的電導率補償功能，可用于計算非磁性基材。 涂層測厚儀-MP0R-FP由于其耐磨的結構而便于攜帶，并且還確保在不利條件下工作時也不會失效。
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