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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數據采集設備。DUALSCOPE FMP40膜厚儀存儲容量多達1,000數據組的10,000個測量數據，帶動態存儲分配能力。100個測量應用的內存可用于存儲校準和相關的測量數據。
DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀使用Fischer的智慧型測量探頭ED10，MP40會自動檢測出基體的材料并應用合適的測試方法：渦流法或電磁感應法。能自動識別不同的探頭。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀采用根據DIN EN ISO 2360，ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應方法。理想的適合于測量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
鋁的陽極氧化層。
一步測量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統（雙鍍層）中各自的厚度。
Fischer FMP40
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