產地類別 |
進口 |
價格區間 |
面議 |
應用領域 |
環保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾x-ray測厚儀特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。
菲希爾x-ray測厚儀簡介:德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230//240德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230/240典型的應用領域有:
測量大規模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍溶液
菲希爾x-ray測厚儀特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。