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面議 |
應用領域 |
環保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210測厚儀,菲希爾x射線熒光測厚儀,可以測量多種金屬的厚度。
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210測厚儀
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。X射線熒光光譜儀,用于對保護和裝飾涂料,量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器,即使大測量距離也可以測量(DCM,范圍0-80mm)。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用;跟XUL類似。可選用自動測量的可編程工作臺. 菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210測厚儀
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。