當前位置:> 供求商機> SRM 640f 硅粉標準品
背景:
從衍射數據的質量來評估X射線粉末衍射儀的性能。主要衍射數據為衍射峰的位置(布拉格角2θ),衍射的強度(衍射峰的積分強度I和各測量點強度Y)和衍射峰的峰形(半峰寬H及分辨率)。一組好的衍射數據能說明有關的測量部件和他們的連接是好的、合格的。從衍射數據的質量來評估X射線粉末衍射儀的性能。主要衍射數據為衍射峰的位置(布拉格角2θ),衍射的強度(衍射峰的積分強度I和各測量點強度Y)和衍射峰的峰形(半峰寬H及分辨率)。一組好的衍射數據能說明有關的測量部件和他們的連接是好的、合格的。
【NIST SRM 640f 硅粉標準品】
主要用途:美國NIST的 SRM 640f 硅粉標準品旨在用作校準衍射線位置和線形的標準,通過粉末衍射法確定。
包裝規格:一瓶SRM 640f 硅粉標準品 由大約 7.5 克裝在氬氣下的硅粉組成。
材料:SRM 640f 硅粉標準品由超高純度的本征硅晶錠制成,這些晶錠經過粉碎和噴射研磨,中值粒徑為 4.1 μm。 然后將所得粉末在 1000 °C 的吸氣氬氣下退火兩小時 [1] 并在氬氣下裝瓶。 X 射線粉末衍射數據的分析表明 SRM 材料在衍射特性方面是均勻的。
認證值:22.5 °C 溫度下的認證晶格參數為
0.543 114 4 nm ± 0.000 008 nm
由該值及其擴展不確定度 (k = 2) 定義的區間主要由 B 類不確定度決定,該不確定度是從對測量數據及其分布的技術理解中估計出來的。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高信心的值,因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮在內。 認證值和不確定度是根據 ISO/JCGM 指南 [2] 中描述的方法計算的。 被測量是晶格參數。 計量溯源性是長度的 SI 單位,以納米表示。
信息值:認證數據的分析包括對洛倫茲分布的全寬半最大值 (FWHM) 進行細化,以說明樣本引起的展寬。 FWHM 項隨 1/cos θ 變化的角度依賴性被解釋為尺寸引起的展寬。獲得的值與大約 0.4 µm 的平均體積加權域尺寸一致。術語隨 tan θ 變化,解釋為微應變,細化為零。計算峰值位置的信息值在表 1 中給出。通過激光散射確定的典型粒度分布在圖 1 中給出。信息值被認為是 SRM 用戶感興趣的值,但不夠充分可用信息來評估與該值相關的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。
認證到期:NIST SRM 640f - 硅粉 標準品 的認證在規定的不確定性范圍內無限期有效,前提是按照本證書中的說明處理和存儲 SRM(參見“存儲說明")。不需要對此 SRM 進行定期重新認證。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改,則認證無效。
儲存說明
SRM 640f 硅粉標準品在氬氣下裝瓶以防止受潮。 不使用時,將未使用的粉末部分密封在原瓶中或以類似或更好的防潮方式存放。
來源
材料來源:硅來自 Siltronic AG(德國慕尼黑)。 粉碎由 Hosokawa Micron Powder Systems (Summit, NJ) 進行。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。