SRM 1134低合金高硅鋼標準品(美國NIST)  是一種在退火條件下發布的低合金鋼，含有大量硅。 SRM 1134 旨在用于評估和校準化學和儀器分析方法。 SRM 1134 的一個單元由一個直徑約 31 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。

認證質量分數值：

被測量是 SRM 1134 中每種成分的認證值。表 1 中以質量分數形式報告了 10 種成分的認證值 [1]。賦值類別基于 NIST 對化學參考材料 [2] 使用的術語和模式的定義。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮在內。認證值是根據 NIST 和合作實驗室進行的分析結果對真實值的當前最佳估計。計量溯源性是導出的 SI 單位的質量分數（以百分比表示）。

參考質量分數值：

被測量是表 2 中報告的鋁的參考值。參考值是對真實值的最佳估計的非認證值；但是，該值不符合 NIST 認證標準，并且提供了相關的不確定性，可能不包括所有來源不確定性 [2]。計量溯源性是導出的 SI 單位的質量分數（以百分比表示）。信息來評估與該值相關的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。

認證到期：

SRM 1134低合金高硅鋼標準品(美國NIST)   的認證在規定的不確定性范圍內無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM（參見“使用說明"）。因此，不需要定期重新校準或重新認證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認證無效。

SRM 認證的維護：

NIST 將在其認證期間監控此材料。如果在本證書到期前發生影響認證的實質性技術變更，NIST 將通知購買者。注冊（見附件，或在線注冊）將有助于通知。

使用說明

測試表面是與標記表面相對的一側，其中包括 SRM 編號。該裝置的整個厚度都經過認證。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個封裝的磁盤都是通過使用銑削完成測試表面來準備的機器。用戶必須為每種分析技術確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染表面。 NIST 發現在表面磨削過程中必須經常更換砂紙。用過的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時，應將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。認證值被認為代表了材料的總體平均成分。