當前位置:南京互川電子有限公司>>超聲波探傷標準試塊>>磁粉檢測用試塊>> M1型磁粉靈敏度試片
M1型磁粉靈敏度試片
產(chǎn)品詳情:
M1型磁粉靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質(zhì)的工件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。
性能規(guī)格:
每片上含 7/50(外圈¢ 12)、15/50(中圈¢ 9) 、 30/50(內(nèi)圈¢ 6) 三種靈敏度
每套 2 片
試片外圈(7/50)u適用于高靈敏度探傷,規(guī)格為( 11-12)D:中圈(15/50 ) u適用于中靈敏度探傷,為( 8-9)D:內(nèi)圈(30/50) u適用于低靈敏度探傷,規(guī)格為(5-6)D.
使用方法:
選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上(膠帶紙貼于試片兩邊緣,不要影響試片背面的刻槽部位)。
進行外加懸場法,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,既是磁化電流)。
上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。