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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 化工,建材,電子 | 組成要素 | 半導體激光器產品及設備 |
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) (顯微OCT掃頻測振)
三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術,利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。
例如,我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。
在下邊的圖片中,你可以看到幾個埋在硅下的金層。它們的位置可以用我們的計量儀測量,精度低于1nm。這些層位于表面下的110 nm和128 nm處。
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) (顯微OCT掃頻測振)
公司簡介
筱曉(上海)光子技術有限公司成立于2014年,是一家被上海市評為高新技術企業和擁有“上海市專精特新企業稱號"的專業光學服務公司,業務涵蓋設備代理以及項目合作研發,公司位于大虹橋商務板塊,擁有接近2000m2的辦公區域,建有500平先進的AOL(Advanced Optical Labs)光學實驗室,為國內外客戶提供專業技術支持服務。公司主要經營光學元件、激光光學測試設備、以及光學系統集成業務。十年來,依托專業、強大的技術支持,以及良好的商務支持團隊,筱曉的業務范圍逐年增長。目前業務覆蓋國內外各著名高校、頂級科研機構及相關領域等諸多企事業單位。筱曉擁有一支核心的管理團隊以及專業的研發實驗室,奠定了我們在設備的拓展應用及自主研發領域堅實的基礎。
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