當前位置:北京東方信捷科技有限公司>>材料物理性能檢測>>罐裝檢測>> SSW-XTS-IIICMC-KUHNKE無損卷封檢測系統
應用領域 | 醫療衛生,化工,能源,制藥,綜合 |
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新的 SEAMscan XTS III 第 3 代 XTS 是一個獨立的測量系統,可為圓形罐(鋁或鋼)提供無損二重卷封檢測。 該系統執行無損橫截面測量和 360° 緊密度掃描。 該系統提供更快的檢查結果,并降低了勞動力成本。
罐子被手動裝載到設備中,然后自動執行所有測量。 罐頭可以被保留以進行額外測試或送回生產。 XTS 的虛擬卷封拆卸技術提供高度準確的二重卷封檢測數據,同時顯著減少產品損壞。
XTS X射線卷封及緊密度掃描儀系列,全球產品
SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀是一款全新的,無損傷且獨立運行的二重卷封和卷封緊密度檢測儀器。卷封結構原自然狀態檢測,系統提高精度,節約時間,節省大量的檢測成本。
專為制罐商和罐裝廠打造的SEAMscan XTS™擁有高分辨率的卷封檢測和功能強大的緊密度自動檢測系統,儀器結構緊湊,操作簡便。
無損傷檢測,節約大量的檢測樣品
SEAMscan XTS™不需要切割就能完整檢測二重卷封內部結構尺寸。
SEAMscan XTS™僅不損傷檢測樣品的優勢,就能為制罐商和罐裝廠節約數以十萬計的成本。經過二重卷封蓋鉤皺紋度(卷封緊密度),以及前面提到的卷封內部結構尺寸檢測的產品,還能100%的用于銷售。SEAMscan XTS™同時能達到FDA對二重卷檢測的標準。
SEAMscan XTS也是一款能*適應生產工廠環境的二重卷封檢測工具,既實現從卷封外部評估二重卷封質量,又節約檢測成本。
不再需要剝離拆卸卷封
質檢人員不再需要拆卸卷封來查看蓋鉤的皺紋度。SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀自動掃描全部蓋鉤的皺紋度,測量并報告客觀的緊密度數值。
采用技術的SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀,無需人員參與檢測,能耗更低,采用無損傷的X射線檢測二重卷封內部結構。
“我們在20世紀90年代就能夠通過我們的SEAMscan軟件配合投影設備檢測蓋鉤皺紋度"CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann說道,“但是那套系統僅看到從二重卷封上拆卸下來的蓋鉤的表面影像。XTS不單單是在不損傷卷封的情況下檢測蓋鉤皺紋度,檢測的詳細程度也是比傳統檢測方式高出很多。"
不再評估緊密度,而是測量緊密度
人為錯誤已經成為過去——至少在二重卷封領域。
X射線緊密度掃描儀檢測二重卷封結構尺寸,以及全球技術的測量卷封內部的皺紋度。蓋鉤皺紋度的檢測結果會自動發送到電腦數據庫,電腦可以實時顯示卷封質量變化趨勢分析結果。
轉用的X射線穿過二重卷封,探測蓋鉤形狀的微妙變化。電腦通過程序算法分析卷封內部各個部位的變化情況,以確定是否對卷封的密封情況造成影響。檢測結果可以使緊密度百分比,亦或是皺紋度或緊密度平均值的形式顯示。
通過行Virtual Seam Teardown™(卷封虛擬拆卸)功能,可以看到身鉤和蓋鉤彼此疊接的真實情況,是以往無法想象的。
檢測項目 : 卷封高度,卷封間隙,身鉤,蓋鉤,疊接度,身鉤率,迭接率,緊密度
精度 : 卷封檢測
適用罐型 : 200 (52 mm)-603 (153 mm)
檢測速度 : 卷封內部結構45秒/罐,全檢70秒/罐
單位 : Inch, mm, %
分辨率 : 卷封
語言 : 多種語言供選擇
電源 : 100-240 VAC, 50/60 Hz
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