是德B1506A半導體器件參數分析儀
主要特性與技術指標
B1506A 通用特性
高達 3 kV/1500 A 的運行范圍
-50 °C +250 °C 的全自動快速熱測試
自動創建功率器件(半導體和元器件)技術資料
自動記錄功能可以避免數據丟失
產品簡介
詳細介紹
是德B1506A半導體器件參數分析儀
主要特性與技術指標 | ||||||||
B1506A 通用特性 | ||||||||
高達 3 kV/1500 A 的運行范圍 | ||||||||
-50 °C +250 °C 的全自動快速熱測試 | ||||||||
自動創建功率器件(半導體和元器件)技術資料 | ||||||||
自動記錄功能可以避免數據丟失 | ||||||||
B1506A IV 套件特性 | ||||||||
快速的全自動封裝和晶圓上器件 IV 測量(Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等) | ||||||||
窄 IV 脈寬(低 10 μs),以防止器件自熱,并測量器件真實性能 | ||||||||
示波器視圖(時域視圖)提供實際電壓/電流脈沖波形監測,以確保精確測量 | ||||||||
可擴展配置,支持添加 CV 和 Qg 功能,以及擴展電流范圍由 20A 升 500 A 或 1500 A | ||||||||
B1506A 完整套件特性 | ||||||||
全部 IV 套件特性 | ||||||||
高達 3 kV 的封裝器件晶體管輸入、輸出和反向轉移電容(Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)和柵極電阻(Rg)測量功能 | ||||||||
封裝器件柵極電荷(Qg)曲線測量 | ||||||||
功率損耗計算(傳導、驅動和切換損耗) |