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光焱科技最新推出PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合最新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統最高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。

1. 使用均勻光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021；
   

2. 取代傳統聚焦小光斑，可以測試um等級的光電傳感器；
   

3. 均勻光斑可以克服色散差與像差的問題，可準確測得EQE曲線；
   

4. 可搭配多種探針臺系統，實現非破壞性的快速測試；
   

5. 集成的光學與測試系統，提高系統搭建效率；
   

6. 一鍵式自動化測試軟件，自動全光譜校正與測量，工作效率高。
   

• 外部量子效率EQE

• 光譜響應SR

• I-V曲線測量

• NEP光譜測量

• D*光譜測量

• Noise-current-frequency響應圖 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)

• Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析