首頁(yè)>>蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>XRF鍍層測(cè)厚儀>>測(cè)厚光譜儀
EDX8000T PLUS 參考價(jià)：188000
Simply The Best微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì)，可分析不規(guī)則樣品厚度高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速，無(wú)損，高精度測(cè)量高分辨率...
鍍層測(cè)厚光譜儀 參考價(jià)：面議
材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過(guò)程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開(kāi)發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀是專門針...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
3