XRF熒光光譜分析儀已用于分析各種金屬塑料及電子材料中的鉛（Pb），鎘（Cd），砷（As），汞（Hg），鉻（Cr）和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測下限（通常2ppm）滿足RoHS法規對于材料中元素限制的含量標準。
X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換。最小0.2mm準直器可以用于樣品微點測試，檢測光斑更小，射線能量更集中。內置高清CCD攝像頭，能清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位。不能做全部元素掃描，因為輕質元素能量躍遷很小，不容易捕捉。
使用注意事項：
1.待測樣品硫含量測量完，應立即取走已裝進待測樣的樣品杯，防止待測樣漏油造成防漏油部件被污染，影響下一個待測樣硫含量的準確分析。
2.一般情況下不必關儀器電源，儀器可以24h連續運行，較長時間不分析樣品，請從樣品臺板上取下并保管好防漏油部件。
3.裝進待測樣的樣品杯，一定要放進樣品臺板上防漏油部件里，才可進行含量分析。
4.為避免防漏油部件被灰塵等污染，在未分析樣品期間，應用擋板蓋住取樣孔。
5.樣品杯為一次性使用，防漏油部件膜上目視到漏油溢出，應立即更換防漏油部件膜。
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