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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
使用原理
日本進(jìn)口諧波減速機(jī)CSF-32-80-2A-GR自準(zhǔn)直原理:光線通過位于物鏡焦平面的分劃板后，經(jīng)物鏡形成平行光。平行光被垂直于光軸的反射鏡反射回來，再通過物鏡后在焦平面上形成分劃板標(biāo)線像與標(biāo)線重合。當(dāng)反射鏡傾斜一個(gè)微小角度α角時(shí)，反射回來的光束就傾斜2α角。
自準(zhǔn)直儀的光學(xué)系統(tǒng):由光源發(fā)出的光經(jīng)分劃板、半透反射鏡和物鏡后射到反射鏡上。如反射鏡傾斜,則反射回來的十字標(biāo)線像偏離分劃板上的零位。
光電自準(zhǔn)直儀是依據(jù)光學(xué)自準(zhǔn)直成像原理，通過LED發(fā)光元件和線陣CCD成像技術(shù)設(shè)計(jì)而成。由內(nèi)置的高速數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對(duì)CCD信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集處理，同時(shí)完成兩個(gè)維度的角度測量。 光電自準(zhǔn)直儀采用模塊化設(shè)計(jì)技術(shù)，由光學(xué)系統(tǒng)、光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。通過光學(xué)成像系統(tǒng)測量被測平面角度的變化，由光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)光學(xué)信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)供后續(xù)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)進(jìn)行分析與評(píng)估。
光電自準(zhǔn)直儀是高精度測量儀器，所以每臺(tái)產(chǎn)品出廠時(shí)均采用高靈敏度參考系對(duì)其進(jìn)行精確校正，并將校正參數(shù)固化在儀器內(nèi)部應(yīng)用程序中，保證每一臺(tái)產(chǎn)品具有同等的測試精度。用戶通過選配相應(yīng)的測試附件可以方便的完成多種測量任務(wù)。
分類
因讀數(shù)系統(tǒng)的不同分為如下幾大類：
日本進(jìn)口諧波減速機(jī)CSF-32-80-2A-GR1、光學(xué)自準(zhǔn)直儀：當(dāng)以光電瞄準(zhǔn)對(duì)線代替人工瞄準(zhǔn)對(duì)線時(shí)，就稱為光電自準(zhǔn)直儀。也有幾種不同的類型，光電瞄準(zhǔn)（對(duì)線）原理與振子式光電顯微鏡的相似、光柵式或其它，精度較傳統(tǒng)自準(zhǔn)直儀有所提高。
2、數(shù)字自準(zhǔn)直儀：基于DSP、計(jì)算機(jī)及CCD或CMOS技術(shù)的新式自準(zhǔn)直儀。也分為幾種，差異的分類是按面陣和線陣，面線陣CCD只能測試一個(gè)方向的數(shù)據(jù)，可以測試兩個(gè)方向線陣的自準(zhǔn)直儀是將兩個(gè)線陣組合或通過光學(xué)方式組合，精度相對(duì)差些，最主要的一般都有測試盲點(diǎn)，但是線陣式有時(shí)可以做得測試范圍更大些。
一般數(shù)字自準(zhǔn)直儀具有動(dòng)態(tài)響應(yīng)和跟蹤功能，也稱為動(dòng)態(tài)自準(zhǔn)直儀，部分光電自準(zhǔn)直儀也具有此功能。