全進(jìn)口激光粒度分析儀 參考價(jià):面議
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案儀器型號(hào):Nicomp N3000 進(jìn)口激光粒度分析儀工作原理:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering,...多功能自動(dòng)計(jì)數(shù)粒度分析儀 參考價(jià):面議
AccuSizer AD系列產(chǎn)品自動(dòng)稀釋顆粒計(jì)數(shù)分析檢測(cè)儀是創(chuàng)先使用自動(dòng)稀 釋技術(shù)來對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè),且提供高分辨率的粒徑分析儀。AccuSizer AD系 列產(chǎn)...納米激光粒度儀 參考價(jià):面議
納米激光粒度儀:專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案,工作原理:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測(cè)范圍:0.3nm-1...ZETA電位分析儀 參考價(jià):面議
ZETA電位分析儀工作原理:粒度檢測(cè): 動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)Zeta電位檢測(cè):帶相位分析的多普勒電泳光散射原...PSS光阻法粒度儀 參考價(jià):面議
PSS光阻法粒度儀:專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案,工作原理:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測(cè)范圍:0.3nm...大乳粒分析儀 參考價(jià):面議
大乳粒分析儀工作原理:單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS),檢測(cè)范圍: 0.5 μm – 400 μm高濃度顆粒計(jì)數(shù) 參考價(jià):面議
高濃度顆粒計(jì)數(shù):只需通過鼠標(biāo)的單擊操作,即能幫助用戶在短時(shí)間 內(nèi)完成從進(jìn)樣到檢測(cè),完成清洗系統(tǒng)的所有操作,使用戶獲得重要的粒徑分布信息。ZETA電位粒度分析儀 參考價(jià):面議
ZETA電位粒度分析儀:帶相位分析的多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase...光阻法顆粒計(jì)數(shù)器 參考價(jià):面議
光阻法顆粒計(jì)數(shù)器型號(hào):AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀,工作原理:單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle ...粒度及zeta電位分析儀 參考價(jià):面議
粒度及zeta電位分析儀工作原理:粒度檢測(cè): 動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)Zeta電位檢測(cè):帶相位分析的多普勒電泳光...zeta電位及粒度分析儀 參考價(jià):面議
zeta電位及粒度分析儀:帶相位分析的多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phas...激光顆粒計(jì)數(shù)器 參考價(jià):面議
激光顆粒計(jì)數(shù)器型號(hào):AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀,單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optica...zeta電位分析儀測(cè)粒徑 參考價(jià):面議
zeta電位分析儀測(cè)粒徑工作原理:粒度檢測(cè): 動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)Zeta電位檢測(cè):帶相位分析的多普勒電泳光...激光納米粒度儀 參考價(jià):面議
激光納米粒度儀:專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案,工作原理:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測(cè)范圍:0.3nm-1...審計(jì)最終粒度儀 參考價(jià):面議
審計(jì)最終粒度儀:專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案,工作原理:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測(cè)范圍:0.3nm-1...大粒子計(jì)數(shù)器 參考價(jià):面議
大粒子計(jì)數(shù)器工作原理:單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS),檢測(cè)范圍:0.5 μm – 400 μm全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀 參考價(jià):面議
審計(jì)最終粒度儀-全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀儀器型號(hào):AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀工作原理:單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Si...Zeta電位與粒徑分析儀 參考價(jià):面議
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析儀器型號(hào):Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀工作原理:粒度檢測(cè): 動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Sc...不溶性微粒分析儀 參考價(jià):面議
儀器型號(hào):PSS A2000 780 SIS 不溶性微粒分析儀工作原理:光阻法[Light Obscuration(LO), Light Extinction(...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)