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應用領域 | 綜合 |
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天瑞儀器 EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀
性能優勢
高分辨率:
采用SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
高準確度,性能優:
使用25mm2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高系統處理能力,計數率大可達8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
清晰攝像頭,準確定位:
采用新型工業級相機,樣品圖像更加清晰,輕松實現精準定位。
小準直器,輕松實現精小部位測試:
提供多種準直器,直徑小達0.2mm,可輕松實現精小部位的準確測試,同時可根據測試需求電動切換準直器,使測量更加輕松更加準確。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱:
FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。
技術參數
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達ppm級
分析含量一般為ppm到99.99%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率:139±5eV
儀器配置
移動樣品平臺
SDD探測器
數字多道分析系統
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
質量:45Kg
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
天瑞儀器 EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀