供貨周期 | 一個月 | 應用領域 | 醫療衛生,能源 |
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DriveThru 測試支持用戶使用 VTEP 技術通過串聯元器件(例如電阻器、電容器和電感器)測試器件。在沒有針對集成電路和/或連接器的直接測試接入時,DriveThru 通過提供測試它們的方法,擴展了 VTEP 的功能。實際上,它使用串聯元器件的另一端上的測點,以產生所需的激勵。這將有助于實現 VTEP 測試,同時還可測試串聯元器件是否存在。
參考價 | 面議 |
更新時間:2024-02-18 18:17:46瀏覽次數:803
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是德keysight DriveThru 測試方案
DriveThru 測試支持用戶使用 VTEP 技術通過串聯元器件(例如電阻器、電容器和電感器)測試器件。在沒有針對集成電路和/或連接器的直接測試接入時,DriveThru 通過提供測試它們的方法,擴展了 VTEP 的功能。實際上,它使用串聯元器件的另一端上的測點,以產生所需的激勵。這將有助于實現 VTEP 測試,同時還可測試串聯元器件是否存在。
DriveThru 特別適用于多節點電路板設計,其中在驅動器引腳上放置了敏感(small-valued)串聯阻尼電阻,以吸收高速數字設計中的作用。
技巧:通常使用電阻包。一個好的 DFT 技巧是預留一個子電阻器兩端的測試接入以進行模擬測量。使用 DriveThru 測試剩余子電阻器。通過這種方法,用戶現在可以探測一個電阻包中每個子電阻器的存在/導電性,并且可以對電阻值進行典型測量,同時減少所需的測試接入。同樣的技巧也適用于電容器和電感器。
是德keysight DriveThru 測試方案