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低溫差示掃描量熱儀 半導體制冷 降溫掃描
低溫差示掃描量熱儀 半導體制冷 降溫掃描為觸摸屏式,可進行玻璃化轉變溫度測試、相轉變測試、熔融和熱焓值測試、產品穩定性、氧化誘導溫度、氧化誘導期測試、固化度等測試。
技術特點
1、工業級別的7寸觸摸屏,顯示信息豐富。
2、全新金屬爐體結構,基線更好,精度更高。
3、USB通訊接口,通用性強,通信可靠不中斷,支持自恢復連接功能。
4、自動切換兩路氣氛流量,切換速度快,穩定時間短。同時增加一路保護氣體輸入。
5、采用***芯片,穩定性高
技術參數:
1.溫度范圍: -40~600℃
2.溫度分辨率: 0.01℃
3.溫度波動: ±0.01℃
4.升溫速率: 0.1~100℃/min
5.降溫速率:0.1~40℃/min
6.恒溫時間:可自行設置
7.控溫方式:升溫,恒溫,降溫(全自動程序控制)
8.掃描方式:升溫掃描、降溫掃描
9.DSC量程: 0~±600mW
10.DSC解析度: 0.01uW
11.DSC度: 0.001mW
12.工作電源: AC220V/50Hz或定制
13. 氣氛控制氣體:兩路自動切換(儀器自動切換)
14.程序控制:可實現六段升溫恒溫控制,特殊參數可定制
15.氣體流量:0-300mL/min
16.氣體壓力:≤5MPa
17.顯示方式: 24bit色,7寸 LCD觸摸屏顯示
18.數據接口:標準USB接口
19.參數標準: 配有標準物質(銦,錫,鉛),用戶可自行校正溫度