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掃描電遷移率粒徑譜儀的工作原理介紹
Palas SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的納米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準確可靠的粒徑分析和計數功能，而且高達256原始通道能夠實現高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求；桌面式簡便操作，易上手；連接方便，可靈活搭載各種預處理裝置（如稀釋裝置等）；開放式數據文件，讀取和分析便捷；可實現自檢測和校準；*兼容性和靈活性，可以跟市場主流計數器兼容等。
工作原理：
氣溶膠在進入分類器（DEMC列）之前經過調節。可選的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
然后，氣溶膠通過入口導入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有較高的質量。
鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續在閉環中循環的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數，因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓，在內外電極之間會產生一個徑向對稱的電場。內電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電的粒子被轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。
在工作中，電壓和電場因此而連續變化。結果，具有變化遷移率的顆粒會離開DEMC，并且由納米顆粒計數器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計（例如Palas®Charme®）連續測量-。
為了組合數據（電壓、電荷數、電荷分布等）并獲得粒度分布，必須進行逆變換。為此，使用的算法是由IfT（德國萊比錫）的Wiedensohler教授開發的算法。