產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 化工,電子,印刷包裝,航天,電氣 |
產品簡介
詳細介紹
SIPDR電阻率測試夾具SiPDR(單柱介電諧振器)用于測量超材料和電阻膜的表面阻抗,以及用于半導體晶片的電導率的非接觸式測量;可以測量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs<20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。
SIPDR電阻率測試夾具對于半導體晶片,電阻率測量的上限約為1000Ωcm。 具有較高電阻率值的半導體可以使用該諧振器方便地進行測量。所有SiPDR(單柱介電諧振器)都是定制的。
類型 | 參數 |
厚度為h的樣品的測量精度 | ±2% |
工作頻率 | 5 GHz |
工作溫度范圍 | -270°C 至 110°C |