高品質介質損耗測試儀是一種專業的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）測量。儀器具有操作簡單、無需數據換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗*力強、測試速度快等特點。 

高品質介質損耗測試儀技術指標
1、環境溫度：0～40℃       
2、相對濕度：30% ～70% 
3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz 
4、外形尺寸：500mm×300mm×400mm 
5、重量：約18Kg           
6、輸出功率：0.6KVA 
7、顯示分辯率：3位、4位（內部全是6位） 
8、測量范圍及輸出電壓選擇：
    介質損耗（tgδ）：±0.00～±999% 
    試品電容容量（Cx）和加載電壓： 
    2.5KV檔:≤300nF(300000pF)      3KV檔:≤200nF(200000pF) 
    5KV檔:≤76nF(76000pF)          7.5KV檔:≤34nF(34000pF) 
    10KV檔:≤20nF(20000pF) 
9、基本測量誤差：
    介質損耗（tgδ）：1%±7個字(加載電流20uA～500mA) 
    介質損耗（tgδ）：2%±9個字(加載電流5uA～20uA) 
    電容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

工作原理
    儀器測量線路包括一路標準回路和一路測試回路：
1、標準回路由內置高壓穩定度標準電容器與標準電阻網絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測試品電容容值（CX）和其介質損耗（tgδ）。
2、數據采集電路全部采用高壓穩定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導數據、浮空地、大面積地、單點地、數字濾波等抗干擾技術，加之計算機對數百個電網周期的數據進行處理，使測量結果穩定、jing確、可靠。