目錄:卡爾蔡司（上海）管理有限公司>>電子顯微鏡>>場發射掃描電鏡>> SEM-蔡司場發射掃描電子顯微鏡 Gemini系列
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 熱場發射 | 應用領域 | 地礦,能源,電子,冶金,綜合 |
[ 產品簡介 ]
蔡司場發射掃描電子顯微鏡Gemini系列，具有出色的探測效率，能夠輕松實現亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優異的低電壓成像能力與表面細節靈敏度，讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。為生命科學研究實驗室、工業實驗室、成像測試平臺、高校或研究機構提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微技術與方案。
[ 產品特點 ]
ü 出色的檢測效率
ü 優異的低電壓分辨率和表面靈敏度
ü 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像
ü 無漏磁鏡筒，輕松應對磁性材料表征
ü 豐富的擴展性
[ 應用領域 ]
ü 材料科學，如納米材料表征
ü 工業應用，如失效分析，性能分析
ü 生命科學，如大體積細胞高通量成像
ü 電池領域，如老化分析、電池材料表征
ü 電子半導體領域，如半導體器件失效研究與分析
ü 刑偵、法醫學
ü 考古學、文物保護與修復
InLens SE探測器磁性FeMn納米顆粒成像
InLens SE探測器NCM622正極顆粒成像
InLens SE 探測器和EsB 探測器同時對包埋在沸石中的銀納米顆粒成像
aBSD探測器FinFET結構成像
NanoVP模式，細節兼顧景深。樣品無需噴金處理。
NanoVP模式下不導電玻璃片上的光刻膠樣品成像 小鼠大腦成像
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