目錄:卡爾蔡司（上海）管理有限公司>>電子顯微鏡>>場發射掃描電鏡>> SEM-蔡司掃描電鏡Sigma系列
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發射 | 應用領域 | 地礦,能源,電子,冶金,綜合 |
[ 產品簡介 ]
蔡司新一代蔡司場發射掃描電子顯微鏡，具有高質量的成像和分析能力，將先進的場發射掃描電子顯微鏡技術與優秀的用戶體驗結合。利用Sigma系列直觀的4步工作流程，在更短的時間內獲得更多的數據，提高測試與生產效率。可選配多種探測器，以滿足半導體、能源等新材料、磁性樣品、生物樣品、地質樣品等不同的應用需求。結合蔡司原位電鏡實驗平臺，可以實現自動智能化的原位實驗工作流程，高效率獲取高通量、高質量的原位實驗數據。EDS幾何設計保證了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、結果可靠。高分辨、全分析、多擴展、強智能、廣應用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科學和工業檢測等領域的“多面手"。
[ 產品特點 ]
ü Gemini鏡筒設計，低電壓高分辨，無漏磁
ü 廣泛全面的應用場景
ü 豐富靈活的探測手段
ü 智能高效的工作流程
ü 先進可靠的分析系統
ü 強大完善的擴展平臺
[ 應用領域 ]
ü 材料科學，如納米材料高分辨成像，高分子聚合物等不導電樣品成像，電池材料成分襯度成像，二維材料分析
ü 生命科學，如生物樣品超微結構成像，冷凍樣品高分辨成像
ü 地質礦物學，如地質樣品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼聯用分析
ü 工業應用，如組件失效分析，工藝診斷
ü 電子半導體行業，如質量控制與分析，6英寸Wafer快速換樣，電子束曝光技術（EBL）
ü 鋼鐵行業，如夾雜物分析，金屬材料自動原位成像分析
ü 刑偵、法醫學
ü 考古學、文物保護與修復
NanoVP lite模式下斷裂的聚苯乙烯表面成像
氧化鋁顆粒高分辨二次電子成像
ETSE探測器氧化鋅枝晶成像 InLens SE探測器氧化鋯&氧化鐵復合材料成像
Sense BSD探測器刺毛苔蘚蟲超微結構成像 aBSD探測器超導合金成像
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