日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000
這是一臺光譜膜厚監(jiān)測儀，用于監(jiān)測在用單色光進行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設(shè)備中，并作為膜厚監(jiān)測設(shè)備完成，該設(shè)備具有氣相沉積零件制造商的專有技術(shù)。

日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000

 

這是一臺光譜膜厚監(jiān)測儀，用于監(jiān)測在用單色光進行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設(shè)備中，并作為膜厚監(jiān)測設(shè)備完成，該設(shè)備具有氣相沉積零件制造商的專有技術(shù)。

全波長范圍

在傳統(tǒng)型號中，波長選擇是濾光片類型，但是新產(chǎn)品結(jié)合了我們成熟的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長。
膜厚變化的信號是從電壓輸出到與個人計算機兼容的數(shù)字輸出，控制機制是從手動操作到個人計算機的命令控制。此外，通過將薄膜厚度計主體通過I / F直接連接到個人計算機來控制其厚度成為可能，這是一個非常緊湊的系統(tǒng)，無需像其他制造商一樣具有控制器。

特征

• 分光鏡設(shè)計緊湊
• 通過提高抗噪聲性（靜電放電測試耐受電壓±5 kV）實現(xiàn)高度可靠的膜厚度監(jiān)控
• 可以通過PC上的命令自動控制
• 通過將控制器合并到接收器主體中來實現(xiàn)高性價比

日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000

產(chǎn)品規(guī)格

模型	OMD-1000
光譜儀類型	Zellny Turner類型單單色
波長范圍	保證范圍：380至900 nm可操作 范圍：350至1100 nm
波長分辨率	狹縫0.5mm：4.2nm [546nm] 狹縫1.0mm：8.3nm [546nm]
波長精度	±1.0納米
小波長進給	0.1納米
外部控制	RS232C
外部輸出端子	DC0-2V（滿量程）
采樣間隔	100ms以上
靜電放電試驗?zāi)碗妷?/td>	±5kV（實際8kV）
光源	12V100W鹵素燈
光強度穩(wěn)定性	±0.1％/ h以下
輸入電壓	AC100V 50/60赫茲
允許輸入電壓	AC85-132V
視在功率	340VA以下
使用環(huán)境	溫度10-35℃ 濕度20-80％