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大塚電子(蘇州)有限公司>>技術文章>>OLED系列測試解決方案

OLED系列測試解決方案

閱讀:716        發布時間:2020-5-21
有機電致發光器件(OLED)研發與制造工程包括機小分子材料開發、真空蒸鍍、封裝、屏測試等多道工序。在OLED的研究材料開發以及品質管理中,大塚電子研發出一系列解決各種問題的測量技術和測量裝置。

1.有機小分子材料開發

構成有機電致發光器件的材料包括電極材料(征集材料和負極材料)、發光材料、載流子傳輸材料(電子傳輸材料和空穴傳輸材料)。有機發光材料為有機電致發光器件的核心材料,理想的有機電致發光材料在性能上具有量子效率高、載流子傳輸能力強、易于成膜、對光和熱穩定性好、具備適宜的分子能級。其中量子效率作為有機發光材料的關鍵指標之一,量子效率測定在有機發光材料的研發階段顯得尤為重要。大塚電子的QE-2000和QE-2100量子效率測量系統可以在短時間內完成粉末、液體、薄膜材料的外量子效率、內量子效率、吸收率、透過率、反射率、發光光譜、激發光譜、色演算等指標的測量及解析。

QE-2000

QE-2100

產品特征

  • 可瞬間測量絶対PL量子効率

  • 去除再激發熒光発光功能,實現高精度測定

  • 采用積分半球單元,實現了更高亮度的光學系

  • 可以選配溫控機能(QE-2100)

  • Sialon標準熒光體的校正,作為性能的保証

 

2.真空蒸鍍

有機小分子薄膜可通過真空熱蒸鍍形成,真空蒸鍍過程需要對膜厚進行監測。大塚電子的MCPD膜厚測量系統可以對真空腔體內的樣品膜厚進行監測。MCPD膜厚測量系統具有以下特點:

  • 高速、高感度的光譜測量

  • 使用真空光纖,可以測量腔體內各種樣品

  • 使用光纖切換機,實現多點的測量檢測

實測實例一:產線膜厚監控

實測實例2:in-situ吸光度監測

  • 蒸著工程的in-situ測量

  • 通過吸光度和檢量線可以計算出膜厚

  • 從偏光角進入的p入射偏光,可以在不受多重干涉的影響情況下實現測量吸光度

監測時間變化的吸光度

3.屏測試

OLED產品封裝完成后要對其進行一系列測試,大塚電子提供整套光學評價與檢測方案。

一、光通量測量裝置(外部量子効率測量裝置)

產品特點:

  • 外部量子効率測量

  • 采用積分半球實現更明亮的光學系

  • 樣品発光部分以外在積分空間外,消除了吸收誤差

  • 可以樣品光源自身影子的影響,尤其適合用于大型面板的測量

二、OLED光學特性評価裝置

產品特點:

  • 與電源連動,可測量放射亮度

  • 亮度測量范圍廣

  • 多彩的測定評價項目多彩な測定評価項目

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